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  • JW-EDX6000E熒光光譜儀

    熒光光譜儀 1.5.1 EDX6000E可專門針對金屬鍍層厚度進行分析。 1.5.2打破傳統儀器直線的設計，采用流線體的整體化設計，儀器簡潔大方。 1.5.3采用美國最新型的Si-pin探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數據分析準確且維護成本低。 1.5.4采用自主研發的SES信號處理系統，有效提高測量的靈敏度，測量更精確。 1.5.5七種光路校正準直系統

    訪問次數：618
    產品價格：面議
    廠商性質：生產廠家
    更新日期：2025-09-11
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